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GB/T17554规定了符合GB/T14916识别卡特性的测试方法。每一测试方法交叉引用一个或多个基础标准,这些基础标准可以是GB/T14916或一个或多个定义了用于识别卡应用的信息存储技术的补充标准。
GB/T17554的本部分规定了无触点集成电路卡技术(邻近式卡)的测试方法。第1部分规定了为一种或多种卡技术所共用的测试方法;其他部分则规定了各个专项技术的测试方法。
除非另有规定,本部分中的测试仅适用于GB/T22351.1和GB/T22351.2中定义的邻近式卡。

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前言 Ⅰ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义、缩略语和符号 1 4 适用于测试方法的默认条款 2 5 静电测试 2 6 测试装置和测试电路 3 7 VICC的功能测试 6 8 VCD的功能测试 7 9 VICC的工作场强测试 8 附录A (规范性附录) 测试VCD天线 9 附录B(资料性附录) 测试VCD天线调谐 11 附录C (规范性附录) 传感线圈 13 附录D (规范性附录) 用于VCD功率测试的参考VICC 15 附录E (资料性附录) 用于负载调制测试的参考VICC 17 附录F(资料性附录) 频谱计算程序 18

下列文件中的条款通过GB/T17554的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
GB/T14916 识别卡 物理特性(GB/T14916—2006,ISO/IEC7810:2003,IDT)
GB/T17626.2 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验(GB/T17626.2—2006,IEC61000-4-2:2001,IDT)
GB/T22351.1 识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第1部分:物理特性(GB/T22351.1—2008,ISO/IEC15693-1:2000,IDT)
GB/T22351.2—2010 识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第2部分:空中接口和初始化(ISO/IEC15693-2:2000,IDT)
GB/T22351.3 识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第3 部分:防冲突和传输协议(GB/T22351.3—2008,ISO/IEC15693-3:2001,IDT)
ISBN92-67-10188-9 对度量不确定性表达的指南,ISO,1993版