IEC 60749 AMD 2-1993 第2次修改
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【英文标准名称】:Semiconductordevices;mechanicalandclimatictestmethods;amendment2
【原文标准名称】:第2次修改
【标准号】:IEC60749AMD2-1993
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1993-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电气工程;试验仪表;机械试验;焊接热;浸泡试验;光谱测定法;水分试验;半导体器件;试验;浸渍;气候试验
【英文主题词】:electricalengineering;semiconductordevices;soakingtests;immersion;testapparatus;climatictests;mechanicaltesting;solderingheat;spectrometry;moisturetest;testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L55
【国际标准分类号】:2370;1442
【页数】:31P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:第2次修改
【标准号】:IEC60749AMD2-1993
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1993-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电气工程;试验仪表;机械试验;焊接热;浸泡试验;光谱测定法;水分试验;半导体器件;试验;浸渍;气候试验
【英文主题词】:electricalengineering;semiconductordevices;soakingtests;immersion;testapparatus;climatictests;mechanicaltesting;solderingheat;spectrometry;moisturetest;testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L55
【国际标准分类号】:2370;1442
【页数】:31P;A4
【正文语种】:英语
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